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簡(jiǎn)要描述:AY-WDG-100B高低溫試驗(yàn)箱主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求,在低溫、高溫、條件下,對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試,測(cè)試后,通過檢測(cè),來判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)。
品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區(qū)間 | 2萬-5萬 |
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,電子,交通,汽車,綜合 |
一、產(chǎn)品用途:
高低溫試驗(yàn)箱對(duì)電子電工、汽車摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高、低溫(交變)循環(huán)變化的情況下,檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。
主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求,在低溫、高溫、條件下,對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試,測(cè)試后,通過檢測(cè),來判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)。
1、AY-WDG-100B高低溫試驗(yàn)箱產(chǎn)品特點(diǎn):
2、控制器特點(diǎn):
3、冷凍系統(tǒng):
4、技術(shù)優(yōu)勢(shì):
二、試驗(yàn)箱規(guī)格與技術(shù)參數(shù)
型號(hào)(MM) | AY-GDW-50L | AY-GDW-100L | AY-GDW-150L | AY-GDW-225L | ||
工作室尺寸 | 350*400*350 | 400*500*500 | 500*500*600 | 500*600*750 | ||
外型(D*W*H) | 820*860*1350 | 900*960*1450 | 1000*960*1450 | 1000*1060*1710 | ||
型號(hào)(MM) | AY-GDW-408L | AY-GDW-500L | AY-GDW-800L | AY-GDW-1000L | ||
工作室尺寸 | 700*800*850 | 700*800*900 | 800*1000*1000 | 1000*1000*1000 | ||
外型(D*W*H) | 1200*1260*1810 | 1200*1260*1860 | 1300*1460*1960 | 1500*1460*1960 | ||
性能指標(biāo) | 溫度范圍 | A:-20℃~150℃ B:-40℃~150℃ C:-60℃~150℃ D:-70℃~150℃ | ||||
波動(dòng)均勻度 | ±0.5℃/±2℃ | |||||
升溫速率 | 1.0~3.0℃/min | |||||
降溫速率 | 0.7~1.0℃/min | |||||
控 | 控制器 | 單點(diǎn)韓國AX或日本富士儀表;可編程TEMI880觸摸式液晶儀表. | ||||
精度范圍 | 設(shè)定和指示精度:溫度±0.1℃ | |||||
溫濕傳感器 | 鉑金電阻 PT100Ω/MV | |||||
加熱系統(tǒng) | 全獨(dú)立系統(tǒng),鎳鉻合金電加熱式加熱器 | |||||
制冷系統(tǒng) | 法國原裝“泰康”全封閉風(fēng)冷式單級(jí)/復(fù)迭壓縮機(jī)制冷方式 | |||||
循環(huán)系統(tǒng) | 耐溫低噪音空調(diào)型電機(jī).多葉式離心風(fēng)輪 | |||||
材料 | 外箱材質(zhì) | A3鋼板靜電噴塑處理 | ||||
內(nèi)箱材質(zhì) | SUS304不銹鋼拉絲板 | |||||
保溫材質(zhì) | 超細(xì)玻璃纖維綿 | |||||
標(biāo)準(zhǔn)配置 | 照明玻璃視窗1套、試品架2個(gè)、測(cè)試引線孔(50或100mm)1個(gè) | |||||
安全保護(hù) | 漏電、短路、超溫、-過熱、壓縮機(jī)超壓、過載、過電流保護(hù) | |||||
電源電壓 | AC380V±10% 50±0.5Hz 三相四線制 | |||||
亦可根據(jù)用戶的具體要求定做非標(biāo)型試驗(yàn)設(shè)備 |
三、設(shè)備執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法
1、GB10586-89低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
2、GB/T10592-89 高低溫技術(shù)條件
3、GB10592-89 高低溫技術(shù)條件
4、GB11158 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
5、GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
6、GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:高溫試驗(yàn)方法
7、GJB150.3-86設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 高溫試驗(yàn)
8、GJB150.4-86設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 低溫試驗(yàn)
9、GB/T2423.22-2001 溫度變化試驗(yàn)方法
10、IEC60068-2-1.1990 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法
11、IEC60068-2-2.1974 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法